压敏电阻在电冲击下加速老化的原因

随着科技的发展，压敏电阻的应用领域也越来的越广泛。在日常的中使用者们都会遇到不少的问题，为什么说压敏电阻在强度不大的电冲击的反复多次作用，导致加速老化，本文JEC小编跟大家谈谈这个问题。

压敏电阻的缺点是易老化，大多数情况下P-N结过载时会造成短路且不可回转到正常状态，在电冲击的反复多次作用下压敏电阻内的二极管元件被击穿。电阻体的低阻线性化逐步加剧，压敏电压越来越低，漏电流越来越大。

随着MOV本体温度的升高，漏电流更大，形成恶性循环，导致MOV的温度升高达到外包封材料的燃点，这种情况称之为高阻抗短路（1kΩ左右）。焦耳热使得MOV发热增加且集中流入薄弱点，薄弱点材料融化，形成1kΩ左右的短路孔后，电源继续推动一个较大的电流灌入短路点，形成高热而起火。

研究结果表明，若压敏电阻存在着制造缺陷，易发生早期失效，强度不大的电冲击的反复多次作用，也会加速老化过程，使老化失效提早出现。综上述说所的，我们可以知道压敏电阻的失效，也跟制造工艺有关系，因此选择正规的生产厂家很重要。

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